cp測試中如何避免probe card燒針? - Cp & Final Test[量產測試] - 半導體技術天地 - 工程師的家園,專註於電子電路 ... 如題：cp測試中如何避免 probe card燒針?從程序中改善還是從針的材料上改善好呢？ cp測試中如何避免 probe ...
教育部區域產學中心─國立台北科技大學 電子報 目前市面上傳統探針卡已面臨測試極 限，由於 傳統懸臂式探針卡 (cantilever probe card) ...
Probe Card 廠商共有哪幾家？ - Yahoo!奇摩知識+ 請問一下，在台灣銷售 Probe Card 的廠商，除了旺矽、勵威電子、普羅卡、經測科技、垂直探針、東京探針 ( TCL )、庫立法索 ( KMS )、步進系統、JEM，還有哪些公司沒列舉到 ...
Semiconductor Industry & IC Testing - 國立中山大學資訊工程學系 Department of Computer Science and Engineering Na Probe card(探針卡) - Blade type - Epoxy type - Vertical type 2007/6/26 MSIC D&T Lab., Dept. of El. Eng., ...
probe card 燒針相關搜尋都在Pluzme 關於 probe card 燒針以及都在Pluzme ... 測試技術新紀元 -- KGD Solution - 《半導體科技．先進封裝與測試》雜誌 and Apparatus for Multiple ...
cp测试中如何避免probe card烧针? - Cp & Final Test[量产测试] - 半导 ... 烧针除了测试机程序外还和针的材质和针尖大小有关。乐于助人，我的联系方式k@ gut.cn ...
晶圓探針卡之微探針接觸與電熱耦合分析研究 2012年2月23日 - 為了在設計開發階段，即能瞭解微探針的「跪針」與「燒針」過程與成因，本研究提出三年期的研究計畫：(第一年) 規劃 ... Probe card is an critical instrument in wafer probing.
p003 先進高密度探針卡技術/ 周敏傑、陳明良 ... - 機械工業雜誌 關鍵詞. ‧探針卡probe card. ‧導電膜conductive film. ‧微機電MEMS. 摘要. 探針卡是應用在積體電路(IC)尚未 ...
投影片1 2007年6月26日 - Memory tester. - RF tester. - LCD Driver tester. - CCD/CIS tester. Probe card(探針卡).
